카테고리 보관물: 260611_repair

Thermo Plate for Nikon

TOKAI HIT Thermo Plate

Clear Glass Heater For Nikon Microscope

Olympus, Zeiss, Leica, Keyence 등 각종 메이커 가능합니다. 문의 바랍니다.

온도 범위 : 상온 ~ 60 ℃ (TPi-UNIX 제외)

“X”로 끝나는 모델은 강화 유리 적용 모델 입니다.

(TPi-UNIX → 강화유리 적용 모델)

공통 기본 구성품

  • Heating Plate
  • TPi Controller
  • Mounting Hook
  • Power code
  • AC Adapter
  • Temperature Sensor (TPiE 모델 제외)
  • Extension Wire (TPiE 모델 제외)
  • TEM Install CD&USB cable (TPiE 모델 제외)
TPi Controller

1. TPi-108RX

Microscope: Nikon Ti2 / Ti / TE2000

Applicable stage: Cross stage with 108 mm round opening

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: φ108 mm
  • Heating area: W70 × D70 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

2. TPi-TCSX

Microscope: Nikon Ti2 / TS2R

Applicable stage: XY Manual stage (TC-S-SR/SRF)

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W127.5 x D85.5 mm
  • Heating area: W115 × D75 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

3. TPi-TIZGX

Microscope: Nikon Ti2 / Ti

Applicable stage: Nikon piezo stage

By using optional Stage Adapter, the plate can be installed on motorized XY stage.

・TI2-NA (NIKON TI2-S-SE-E, TI2-S-SS-E)
・TID-NA (NIKON TI-S-E, TI-S-ER)

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W159.5 x D109.5 mm
  • Heating area: W129 × D87 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

4. TPi-TS2X

Microscope: Nikon TS2

Applicable stage: Mechanical stage (TS2-S-SM)

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W238 x D112 mm
  • Heating area: W216 × D94 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

5. TPi-TMSX

Microscope: Nikon TMS / TMS-F

Applicable stage: XY mechanical stage

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W130 x D90 mm
  • Heating area: W103 × D66 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

6. TPi-TSX

Microscope: Nikon TS / TS-100

Applicable stage: XY mechanical stage

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W130 x D97.5 mm
  • Heating area: W101 × D71.5 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

7. TPi-CKTS

Microscope:  Nikon TS / TS-100 , Olympus  CKX41 / CKX31 / CK40 / CK30 / CK2

Applicable stage: Nikon XY mechanical stage TE/TI-SAM , Olympus XY mechanical stage IX-MVR

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W150 x D117 mm
  • Heating area: W131 × D95 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

8. TPi-SX

Microscope: Upright Microscopes Ni / Ci / 90i / 80i / 55i / 50i E1000 / E800 / E600 / E400 / E200 OPTIPHOT-2 / LABOPHOT-2

Applicable stage: Mechanical stage for upright microscopes

(제공된 마운팅 플레이트를 사용하면 쉽게 부착할수 있습니다)

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W142 x D115 mm
  • Heating area: W128 × D95 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

9. TPi-SMZ25X

Microscope:  Nikon SMZ25 / SMZ18 / SMZ1270

Applicable illumination base:  P2-PB/ P2-DBL / P-DFB, P-DSL32 / P-DSF32

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W251 x D238 mm
  • Heating area: W185 × D175 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

10. TPi-SMZSLX

Microscope:  Nikon SMZ1500 / SMZ1000 / SMZ800

Applicable illumination stand:  C-DSD / C-DSS / C-BD

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W254 x D263 mm
  • Heating area: W175 × D185 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

11. TPi-SMZSSX

Microscope:  Nikon SMZ1500 / SMZ 1000 / SMZ 800

Applicable illumination base: C-PS, C-DS

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W198 x D269 mm
  • Heating area: W162 × D152 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

12. TPi-SMZR

Microscope:   Nikon SMZ1500 / SMZ1000 / SMZ800

Applicable illumination stand:  C-PS, C-05

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: φ 180
  • Heating area: W120 × D120 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

13. TPi-SMZU / TPi-SMZ6 / TPi-SMZ

Microscope:   Nikon SMZ Series

Applicable illumination stand:  Nikon SMZ illumination base

SMZ-U1/U2/U3/U4/10A-3/10A-5/660/645/2T/2B/1/1B

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W132 x D195 mm(SMZ) / W200 x D240 mm(SMZ6) / W260 x D225 mm(SMZU)
  • Glass thickness: 1.0 mm

14. TPi-UNIX

Universal Type for Stereo Microscope

For Various types of illumination base

  • Setting range: ambient ~ 50℃
  • Plate dimension: W435 x D220 mm
  • Legs adjustable range : 75~100mm
  • Heating area: W400 × D175 mm
  • Glass thickness: 1.5 mm

15. TPi-W / TPi-WL

Universal Large Type (W230 x D180 / W310 x D220)

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W230 x D180 / W310 x D220 mm
  • Heating area: W180 × D140 / W250 x D170 mm
  • Glass thickness: 1.5 mm

16. TPiD-VITX

Universal Type for stereo microscopes

For Thawing Process of Frozen embryo

2ch controller
  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Base dimentions:W435 × D280 mm
  • Plate dimentions: W230 × D148 mm
  • Legs adjustable range:75 – 100 mm
  • Heating area:W95 × D128 × 2 pcs
  • Glass thickness:0.5 mm

Thermo Plate / Thermo Stage / Warming Plate / Heating Plate / Heating Stage / 가열 스테이지

Thermo Plate for Evident

TOKAI HIT Thermo Plate

Clear Glass Heater For Olympus

Nikon, Zeiss, Leica, Keyence 등 각종 메이커 가능합니다. 문의 바랍니다.

온도 범위 : 상온 ~ 60 ℃ (TPi-UNIX 제외)

“X”로 끝나는 모델은 강화 유리 적용 모델 입니다.

(TPi-UNIX → 강화유리 적용 모델)

공통 기본 구성품

  • Heating Plate
  • TPi Controller
  • Mounting Hook
  • Power code
  • AC Adapter
  • Temperature Sensor (TPiE 모델 제외)
  • Extension Wire (TPiE 모델 제외)
  • TEM Install CD&USB cable (TPiE 모델 제외)
TPi Controller

1. TPi-110RX

Microscope: Olympus IX83 / IX 73 / IX81 / IX71 /IX 51 / IX70/ IX50, IMT2

Applicable stage: Cross stage with 110 mm round opening

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: φ110 mm
  • Heating area: W70 × D70 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

2. TPi-110R13

Microscope: Olympus IX83 / IX 73 / IX81 / IX71 /IX 51 / IX70/ IX50, IMT2

Applicable stage: Cross stage with 110 mm round opening

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: φ110 mm
  • Heating area: W70 × D70 mm
  • Glass thickness: 1.3 mm
  • Ideal for relief contrast observation with a glass bottom dish

3. TPi-IX3X

Microscope: Olympus IX83 / IX 73

Applicable stage: XY manual (IX3-SVR)/XY motorized (IX3-SSU) stage

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W189.5 x D155.5 mm
  • Heating area: W174 × D127 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

4. TPi-IX3-13

Microscope: Olympus IX83 / IX 73

Applicable stage: XY manual (IX3-SVR)/XY motorized (IX3-SSU) stage

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W189.5 x D155.5 mm
  • Heating area: W155 × D130 mm
  • Glass thickness: 1.3 mm

5. TPi-SQX

Microscope: Olympus IX series

Applicable stage: manual/motorized XY stage with 160 × 110 mm aperture for Prior Scientific stage H117

아래 아답타를 사용하여 다양한 스테이지에 설치 가능

  • MK-IX3 (OLYMPUS IX3-SSU, IX3-SVR)
  • MK-SIG (OLYMPUS BX3-SSU, IX2-SFR, IX2-SVL2)
  • TI2-ZILCS (NIKON TI2-S-SE-E, TI2-S-SS-E)
  • TI2-RA (NIKON TC-S-SR, TC-S-SRF)
  • TID-ZILCS (NIKON TI-S-E, TI-S-ER)
  • MK-RA (NIKON TI-SR, TI-SSR)
  • MK-EVOS (Thermo Fisher Scientific EVOS FL)
  • MK-EVOS-AT (Thermo Fisher Scientific EVOS FL Auto)
  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W160 x D110 mm
  • Heating area: W128 × D84 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

6. TPi-CKX53X

Microscope: Olympus CKX53 series

Applicable stage: XY mechanical stage CKX3-MVR

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W190 x D138 mm
  • Heating area: W174 × D127 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

7. TPi-CKX

Microscope: Olympus  CKX41 / CKX31 / CK40 / CK30 / CK2

Applicable stage: Olympus XY mechanical stage IX-MVR

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W127 x D85 mm
  • Heating area: W103 × D63 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

8. TPi-CKTS

Microscope: Olympus  CKX41 / CKX31, CK40 / CK30 / CK2 Nikon TS / TS-100

Applicable stage: Olympus XY mechanical stage IX-MVR, Nikon XY mechanical stage TE/TI-SAM

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W150 x D117 mm
  • Heating area: W131 × D95 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

9. TPi-SX

Microscope: Upright Microscopes BX53 / BX43 / CX40 / CH40 / CH30

Applicable stage: Mechanical stage for upright microscopes

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W142 x D115 mm
  • Heating area: W128 × D95 mm
  • Glass thickness: 0.5 mm

10. TPi-SZX2X

Microscope: Olympus SZX16 / SZX10

Applicable illumination base: SZX2-ILLB / SZX2ILLD / SZX2- ILLK / SZX2- ILLT / SZX2- ILLTQ / SZX2- ILLTS

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W238 x D227 mm
  • Heating area: W162 × D152 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

11. TPi-SZX1

Microscope: Olympus MVX10 SZX12 / SZX9 / SZX7

Applicable illumination stand: SZX-ILLK / SZX-ILLB2 / SZX-ILLD2

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W205 x D205 mm
  • Heating area: W170 × D170 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

12. TPi-SZ2

Microscope: Olympus SZX7, SZ61

Applicable illumination base: SZ2-ST + SZ2-ILA

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W278 x D175 mm
  • Heating area: W230 × D146 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

13. TPi-OZX

Microscope: Olympus SZ60 / SZ40 / SZ11

Applicable illumination stand: OLYMPUS SZ60 / SZ40 / SZ11 illumination stand

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Plate dimension: W180 x D230 mm
  • Heating area: W162 × D152 mm
  • Glass thickness: 1.0 mm

14. TPi-UNIX

Universal Type for Stereo Microscope

For Various types of illumination base

  • Setting range: ambient ~ 50℃
  • Plate dimension: W435 x D220 mm
  • Legs adjustable range : 75~100mm
  • Heating area: W400 × D175 mm
  • Glass thickness: 1.5 mm

15. TPi-W / TPi-WL

Tokai-Hit TPi-WL Themo Plate

Universal Large Type TPi-W (W230 x D180 / W180 x D140)
Universal Large Type TPi-WL (W310 x D220 / W250 x D170)

  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Glass thickness: 1.5 mm

16. TPiD-SZX2DX

Entire Surface Heating Plate for Olympus SZX16/10
– SZX2-ILLB/ILLD/ILLK/ILLT/ILLTQ/ILLTS

  • Setting range: ambient ~ 50℃
  • Dimensions:W357×D243 mm
  • Heating area:(Glass part):W128×D95 mm
  • Glass thickness:0.5 mm

17. TPiD-VITX

Universal Type for stereo microscopes

For Thawing Process of Frozen embryo

2ch controller
  • Setting range: ambient ~ 60℃
  • Base dimentions:W435 × D280 mm
  • Plate dimentions: W230 × D148 mm
  • Legs adjustable range:75 – 100 mm
  • Heating area:W95 × D128 × 2 pcs
  • Glass thickness:0.5 mm

Thermo Plate / Thermo Stage / Warming Plate / Heating Plate / Heating Stage / 가열 스테이지

image Pro 10

30년 이상의 Image Pro User를 통한 경험을 바탕으로 더욱 강력해진 ImagePro 10. 다양한 어플리케이션으로 모든 산업의 이미지 분석용으로  사용 가능 합니다.

미국 Media cybernetics 社 전문가용 이미지 분석 전문 프로그램

Image Pro 10

2D/3D/4D Image Analysis Software Image-Pro 10

Image-Pro의 2D 분석 기능에 추가 구성이 가능한 모듈이 추가 되었습니다.

Image Pro Plus 전문 기업 (주) 제이엔옵틱

궁금 하신 내용은 연락 바랍니다. 02-3473-4188~9

Image-Pro Applications & Solutions

Life Science

  • Cell Counting
  • Counting Makers within Cells
  • Angiogenesis
  • Wound Healing
  • Cell Tracking
  • 3D Cell Analysis
  • 3D Colocalization

Manufacturing

  • Inspection with EDF
  • Quality Assurance
  • Aerosol Spray Analysis
  • Intermetallic Corrosion
  • Particle Size Analysis
  • 3D Visualization and Volume Analysis

Digital Pathology

  • Percent Area Staining
  • Cell Classification
  • Microglia/Brain Tissue
  • Color Deconvolution
  • Whole Slide Analysis
  • Tissue Analysis

Materials Sciences

  • Ceramics, Composites and Plastics
  • Metal
  • Cosmetics
  • Galss, Films and Coating
  • R&D New Materials
  • Food Quality Assurance
  • Fiber Analysis
  • Particle and Porous Materials Analysis
  • Layer Thickness

Natural Resources

  • Entomology
  • Forestry and Plant Disease
  • Agriculture
  • Remote Sensing
  • Population Analysis
  • Otoloth Analysis and Morphology
  • Egg and Larvae Counting
  • Fisheries

Electron Microscopy

  • Particle Size Analysis Metals
  • Fiber Analysis
  • Phase Analysis
  • Image Tiling
  • FIB-SEM 3D Volume Rendering and Analysis

Security

  • Forensic Image Optimization
  • Fiber Analysis
  • Tool Marks Analysis
  • Remote Sensing

2D Image Capture Module

2D 이미지 캡쳐 모듈은 ImagePro의 이미지캡쳐, 비디오 레코딩을 위한 요소로서 Digital Camera 또는 Frame Grabber에서 Live Preview, movie, still image를 얻기 위해 설계되어 있습니다.

High Dynamic Range (HDR) capture

Live Extended Depth of Field

Live Tiling

Live Measurements

Live Calibrated Grids

Live Image Comparison

Record Time-Lapse Events

Live Intensity Over Time


3D VISUALIZATION & ANALYSIS MODULE

Superior Visualization

Image-Pro 3D 모듈을 추가 하여 3D 시각화및 분석이 가능 합니다.

3D/4D View

3D 이미지 또는 Time-lapse 데이터를 포함한 4D이미지의 시각화

Slice View

2D 이미지와 3D 이미지를 연결, 투영 모드로 관찰

Gallery View

2D 이미지와 3D 이미지를 연결, 투영 모드로 관찰

Measure Complex 3D Objects

Guided Segmentation은 기존의 3D 분할 기술에 비해 뛰어난 단순화된 Guided Process를 사용하여 모든 3D 개체를 식별하고 측정할 수 있도록 설계 되었습니다.


Manual Measurements

분리된 개체의 물리적 측정값을 쉽게 정량화 하고 분석 프로토콜에 맞게 표준화가 가능 합니다.


Distances, Areas, Volumes

  • 3D Centroids,
  • Surface Area
  • Circumferences
  • Distance between objects
  • 3D lengths from surface to center
  • 3D lengths following along an object’s surface

Centroids, Angles, Contours

  • 3D Object Contours using 2D plolylines on slices
  • X,Y,Z Size, Shape, Orientation and Intensities
  • X,Y,Z coordiantes at any 3D location
  • Distance between objects, and merge/split
  • Relative Angles between lines
  • Relative Angles to reference vectors


Automated Measurements

자동 측정을 이용하여 쉽게 데이터 산출이 가능합니다.

Filter and Classify by Measurement

최소-최대값 지정하여 측정 가능 합니다.

구간별 분포도 산출 가능 합니다.

결과 데이터의 오름/내림차순 정렬

통계 데이터 정리가 수월 합니다.


Finding, Measuring and Counting Objects
Count Objects
Generating Reports
Caliper Tool & Edge Detection

image Pro Plus 7

이미지 분석의 정석

미국 Media cybernetics 社 전문가용 이미지 분석 전문 프로그램

Image-Pro Plus 7

Image Pro Plus 전문 기업 (주) 제이엔옵틱

궁금 하신 내용은 연락 바랍니다. (주) 제이엔옵틱 02-3473-4188~9

2D Image Analysis Software ImageProPlus7.0

2D/3D/4D Image Analysis Software ImageProPlus 10.0

2D Image Analysis Software

수 많은 전세계 연구원이 사용하는 Image-Pro Plus 2D 이미지 분석 소프트웨어를 사용하면 이미지를 쉽게 수집하고, 개체를 카운트 하고, 측정 및 분류작업을 자동화 할 수 있습니다.

본 소프트웨어 솔루션은 현미경 제어, 이미지 캡처, 측정, 개수 / 크기 및 매크로 개발 도구를 제공합니다.

Image Acquisition

정확한 이미지 분석은 이미지획득부터 시작됩니다. 사용하기 쉬운 캡처 도구를 사용하여 캡처 장비를 100% 활용하십시오. Image-Pro Plus는 광범위한 디지털 카메라, 이미지 캡처 카드 및 기타 장치를 지원합니다

ImagePro Plus에서 활용 가능한 캡쳐 장비 확인 <-클릭!

Time Lapse Acquisition

시간 간격으로 이미지를 획득하여 시간에 따른 표본 또는 재료의 변화를 조사합니다. 타임 랩스 이미지를 동영상으로 재생하여 움직임 및 기타 활동의 확인이 가능합니다.

시간변화에 따른 개체 이동변위 측정
시간 변화에 따른 개체의 intensity 변화량 측정
동적샘플에 대한 추적 기능 (포인트, 면적증의 속도, 가속도, 이동 변위 측정)

Morphology

수동/ 자동 측정을 위한 다양한 필터를 사용하여 이미지 구조를 정확하게 분할합니다

다양한 필터 처리로 이미지 향상

Filter and Enhance

노이즈를 필터링하고 이미지 디테일을 향상시키기 위해 다양한 강화필터와 에지 필터를 사용합니다,

Pseudo-color

Pseudo-color(의사 색상)을 사용하여 회색조 이미지에서 관심있는 부분을 강조 표시합니다. 일반적으로 주변과 구분하기 어려운 특정 강도를 시각적으로 강조하기 위해 사용합니다.

Count and Measure

면적, 둘레, 길이, 진원도, 주축 및 부축, 각도, 중심, 내부홀 및 모집단 밀도등 50여가지가 넘는 수동 및 자동 측정 도구를 사용하여 각 객체를 분석합니다. 특정 객체에 태그를 지정하고 크기 또는 기타 측정 항목별로 정렬가능합니다

Count, Size & Sort Objects using Image-Pro Plus analysis software
Wound Healing Analysis – Image-Pro Plus Software

Classify

사용자 정의 분류 방법을 사용하여 분포 분석을위한 측정 매개 변수를 기반으로 셀, 입자 또는 객체를 클래스로 그룹화합니다

이미지 카운트와 데이터 분류
Threshold & Measure Objects
잎사귀의 병든 부분의 면적% 측정 가능
대면적을 촬영하여 개체수를 파악 할수 있습니다.

Interactive Measurements

다양한 측정 옵션을 사용하여 이미지에서 수치화 가능한 데이터를 추출이 가능합니다. 계측 도구를 사용하면 가장 적합한 선, 호 및 원을 측정 할 수 있고. 캘리퍼 도구를 사용하여 를 규칙적인 간격 측정이 가능합니다.

엣지를 설정하여 일정 구간의 간격 측정
유리 필름등의 코팅 엣지를 자동 감지하여 두께 측정 가능

Co-localization

생물학적 표본에서 공동 위치를 탐지하고 산점도에서 두 데이터 세트 간의 연관성을 그래픽으로 표시합니다.

Automate with Macros

Image-Pro Plus는 편리한 사용자 정의 도구와 내장 매크로 프로그래밍 언어를 제공하여 이미지 분석 절차를 간소화합니다. macro 기록 도구를 사용하여 자주 수행하는 작업을 저장하고 쉽게 편집 할 수 있습니다. Image-Pro Plus에 포함 된 시간 절약형 macro를 사용하거나 사용자가 제공 한 Solutions Zone 사이트에서 다운로드 바랍니다.

Using the Batch Process Macro – Image-Pro Plus

다양한 어플리케이션을 확인 하실수 있습니다

Supported File Formats

Microsoft Windows bitmap*.bmpReadWrite

DescriptionExtensionReadWrite
AVI MOVIE FILE*.avReadWrite
Flat FILE*.flfRead (binary)Write
Flex Image Transport System*.fts, *.fit, *.fitsReadWrite
JPEG*.jpeg, *.jpgReadWrite
JPEG 2000*.jp2, *.jpfReadWrite
Raw Binary Data File*.rawRead 
TIFF*.tif, *.tiffReadWrite
Media Cybernetics Image-Pro sequence*.seqReadWrite
Encapsulated Postscript Vector graphics*.eps Write
Image-Pro Set*.ips Write
Targa bitmap (Adobe Acrobat,TrueVision)*.tgaReadWrite
UniPlot Graph*.ipwReadWrite
QED*.qedRead 
Hierarchical Data Format*.hdfRead 
Molecular Dynamics*.gelRead 
Image-Pro and StreamPix*.seqRead
MetaMorph®*.stkRead
Bio-Rad Confocal*.picRead
Carl Zeiss®*.lsm, *.zviRead
AutoQuant Stack*deb, *.avzRead
Leica®*.lei, *.lifRead
Gatan*.dm3Read
DeltaVision*.dvRead

HISTORY OF THE MICROSCOE

광학 현미경의 역사

단렌즈 현미경 – Single Lens Microscope

발명자 : 안톤 판 레이우엔훅 ( Anton van Leeuwenhoek : 1631 ~ 1723)

복식현미경 – Compound microscope

robert hooke microscope에 대한 이미지 검색결과
발명자: 로버트 후크 ( Robert Hooke : 1635 ~ 1703 ))

가시광선을 주로 사용하는 광학 현미경은 상기와 같이 단렌즈 현미경으로 시작하여 대물렌즈와 접안렌즈를 조합하여 사용하는 복합현미경의 모습으로 기본 구조를 갖추어 왔습니다. 또한 보다 높은 배율을 추구할 수록 흐려지는 이미지의 질을 높이기 위한, 수 많은 시도의 결과로 현재 우리는 양질의 이미지를 볼 수 있는 현미경을 사용할 수 있습니다.

또한 일반인이 흔히 알고 있는 광학현미경은 Bright Fileld 라고 불리는 관찰법으로써 설명 할 수 있습니다. 하지만, 이 관찰법만으로는 다양한 샘플을 보고자 하는 탐구자들의 욕구를 만족시키기 어렵기 때문에, 보다 다양한 관찰 방법이 개발되어 왔고, 향후에도 새로운 관찰법이 끊임없이 개발될 것으로 기대됩니다.

참고로, 오늘날의 대표적인 현미경 관찰법을 열거하자면 BF, DF, PO, Simple PO, DIC, PH, FLUORESCENCE 등을 들수 있습니다.

전자 현미경

SEM ; Scanning Eelectron Microscope

원자 현미경

AFM ; Atomic Force Microscope

Image Pro Plus

이미지 분석의 정석

미국 Media cybernetics 社 전문가용 이미지 분석 전문 프로그램

2D Image Analysis Software ImageProPlus7.0

2D/3D/4D Image Analysis Software ImageProPlus 10.0

Image Pro Plus 설치, 교육 전문 기업

ImageProPlus 에 대해 궁금하신 사항 연락 바랍니다

02-3473-4188

이미지 카운트와 데이터 분류
대면적을 촬영하겨 개체수를 파악 할수 있습니다.
잎사귀의 병든 부분의 면적% 측정 가능
엣지를 설정하여 일정 구간의 간격 측정
유리 필름등의 코팅 엣지를 자동 감지하여 두께 측정 가능
다양한 필터 처리로 이미지 향상
동적샘플에 대한 추적 기능 (포인트, 면적증의 속도, 가속도, 이동 변위 측정)

Cast iron analysis

흑연 구상화율(주철분석) 측정 프로그램 JNO-IXM-Cast Iron

연마(폴리싱)된 샘플을 현미경으로 확대하여 영상화한 이미지를 가지고 구상화율을 보다 쉽게 구하실수 있습니다.

현미경 영상 획득 이미지 캡쳐 , 기본적인 길이 면적 각도등의 측정, 파티클 카운트 , 상분석( 페라이트 펄라이트 측정) 등의 기능을 기본적으로 포함하고 있습니다.

주철 조직을 다양한 규격 하에서 분석할 수 있는 도구를 제공합니다.

규격은 프로그램내에서 설정 가능 합니다.
KS D 4302:2011
KS D 4302:2006
ASTM A 247-06
ASTM E 2567-11
ISO 945-1:2008
ISO 16112:2006
JIG G 5502-2001

자세한 문의 사항은 02-3473-4188 연락 바랍니다 .

아래 내용은 규격에 따른 측정 결과입니다.

  1. KS D 4302:2011

2. KS D 4302:2006

3. ASTM A 247-06

4. ASTM E 2567-11

5.  ISO 945-1:2008

6.  ISO 16112:2006

7. JIS G 5502-2001

OLS4500

OLS4500

 

LEXT OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경(LSM), 프로브 현미경(SPM)을 한 대에 결합한 복합 현미경입니다. 관찰 배율은 수십 배에서 수백만 배까지 광범위한 영역을 커버하고 관찰 포인트를 잃는 일 없이 원활하게 밀리미터부터 나노미터까지 관찰 및 측정이 가능합니다.

 

OLS4500이 실현하는 새로운 솔루션

 

한번 잡은 타겟은 절대 놓치지 않는다.

전동 리볼버로 배율, 관찰 방법 전환

저배율에서 고배율 관찰이 가능한 4 개의 대물 렌즈와 SPM 장치를 전동 리볼버에 장착하여 배율과 관찰 방법을 원활하게 전환 할 수 있어 관찰 대상을 잃을 일이 없이 바로 나노미터까지 검색 할 수 있는 현미경입니다.

광 범위의 배율과 다양한 관찰 방법으로 관찰 대상을 쉽게 발견 할 수 있습니다.

첨단 광학 기술이 뒷받침된 다양한 관찰 방법과 저배율부터 고배율까지 관찰 대상을 쉽게 찾을 수 있습니다. 또한 광학 현미경으로는 보이지 않는 관찰 대상을 레이저 현미경으로 찾을 수 있습니다. 레이저 미분 간섭 (DIC) 관찰에서는 나노 수준의 미세 요철의 라이브 관찰도 가능합니다.

샘플 세팅부터 이미지 획득까지, 작업시간을 획기적으로 단축

샘플 세팅 이후의 모든 작업을 1대의 장치로 수행 할 수 있습니다.
관찰대상을 신속, 정확하게 SPM 현미경 모드로 가져올 수 있기 때문에, 한 번의 스캐닝 영역 내에서 원하는 SPM 이미지를 얻을 수 있습니다.

일체형이기 때문에 샘플을 옮길 필요 없이 배율 및 관찰 방법을 교체하여 하나의 현미경으로 유연하게 대응 가능합니다.

OLS4500은 광학 현미경, 레이저 현미경, 프로브 현미경의 일체형이기 때문에 샘플을 옮길 필요 없이 세 가지의 현미경을 자유 자재로 전환하며 관찰 및 평가가 가능합니다. 각각이 가진 뛰어난 기능으로 효율적인 최적의 결과 값을 얻을 수 있습니다.

 

OLS4500에서 가능한 원할한 관찰과 측정

 

관심 영역을 바로 찾는 것이 가능

광학 현미경의 다양한 관찰법을 이용하여 빠르게 관찰 대상을 찾아낼 수 있습니다.

광원으로 백색 LED를 사용하기 때문에, 색 재현성이 뛰어난 고해상도 컬러 이미지를 볼 수 있습니다. 4개의 대물 렌즈로 저배율에서 고배율까지 관찰이 가능합니다. OLS4500은 광학 현미경의 기능을 최대한 활용하여 가장 많이 사용되는 명시야관찰 (BF)을 비롯해 미세한 요철에 컨트라스트를 넣어 입체적으로 시각화하는 미분간섭관찰 (DIC), 샘플의 편광특성이 색으로 표현되는 간이 편광 관찰이 가능합니다. 또한 노출시간을 바꾸어 여러장의 이미지를 촬영, 합성 하는 것으로 밸런스가 좋은 밝기와 향상된 텍스처의 이미지를 보여주는 HDR기능(High Dynamic Range)을 이용 할 수 있습니다. 다양한 관찰 방법으로 신속하게 관심 영역을 찾을 수 있습니다.

BF 명시야

가장 널리 사용되는 관찰 방법입니다.
자연스러운 이미지와 사실적인 칼라 재현. 컨트라스트가 있는 샘플의 관찰에 적합합니다.

 

 

 

DIC
Differential Interference Contrast

명시야에서는 보이지 않는 샘플의 미세한 단차를 시각화합니다. 금속조직, 하드디스크 및 웨이퍼 연마 표면 같은 거울위의 스크레치나 이물질 관찰에 적합합니다.

 

 

 

간이편광

편광 (특정 진동 방향을 갖는 빛)을 조사하여 샘플의 편광 특성 (굴절률 등)을 시각화합니다. 금속 조직, 무기물, 반도체 재료 등의 관찰에 적합합니다.

 

 

 

HDR High Dynamic Range

노출 시간을 바꾸어 여러 장의 사진을 찍어 합성하는 것으로, 밝은 부분, 어두운 부분을 균형있게 볼 수 있습니다. 또한 텍스처 (표면 상태)를 강조함으로써 세밀한 관찰이 가능합니다.

 

 

 

LSM은 광학 현미경으로는 보이지 않는 것을 가능하게 합니다.

405nm 짧은 파장의 레이저 광원과 높은 N.A의 전용 대물렌즈를 사용하여, 높은 평면 분해능을 가집니다. 광학 현미경으로는 보이지 않았던 관찰대상을 선명한 이미지로 관찰하는 것이 가능합니다. 레이저 미분간섭(DIC)은 나노미터의 마이크로영역 표면의 실시간 관찰도 가능합니다.

【접근법】관심 영역에 정확하고 빠르게 접근하여 SPM으로 관찰

관찰 대상을 놓치지 않고 원할하게 관찰 가능

저배율에서 고배율 관찰이 가능한 4개의 대물 렌즈와 소형 SPM 장치를 전동 리볼버에 장착. 광학현미경 또는 레이저 현미경 50배, 100배의 실시간 관찰에서는 SPM 스캔범위가 시야의 중심에 표시되므로 관찰 포인트를 이 위치에 맞춘 후, 프로브현미경으로 전환 하는 것만으로 관찰대상에 정확하게 접근 할 수 있습니다. 따라서 원하는 이미지를 한번의 SPM 스캔으로 획득할 수 있고, 작업의 효율성과 캔틸레버의 소모를 줄일 수 있습니다.

SPM 관찰로 쉽게 전환 하기 위한 안내 기능

캔틸레버 설치, 스캔 범위 설정 등 프로브 현미경으로 관찰하는 데 필요한 준비는 안내 화면에 따라 수행 할 수 있어, 경험이 적은 사람이라도 안심하고 작업을 할 수 있습니다.

 

 

【나노미터 접근 측정】간단한 조작으로 빠른 측정이 가능

노이즈 감소를 위해 새롭게 개발된 SPM 헤드

새롭게 개발된 소형 SPM 해드

OLS4500에서는 전동 리볼버에 장착하는 대물 렌즈 형 SPM 헤드를 사용. 대물 렌즈와 캔틸레버 끝을 동축, 동초점으로 배치하여, SPM 관찰로 전환 하더라도 관찰 포인트를 잃지 않습니다. 또한 새로 개발한 소형 SPM 헤드는 강성을 높여 기존제품보다 이미지의 노이즈를 줄이고 응답성을 향상 시켰습니다.

네비게이터 기능으로 SPM 이미지를 자유자재로 확대

네비게이터 기능은 프로브 현미경에서 얻은 이미지의 필요한 부분을 더 크게 확대하여 관찰 할 수 있습니다. 이미지에서 확대 범위를 커서로 설정하여 스캔을 시작하는 것 만으로 원하는 SPM 이미지를 얻을 수 있습니다. 스캔 범위는 자유롭게 설정할 수 있으므로 관찰 · 측정 효율성이 크게 향상됩니다.

네비게이터 기능 10μmx10μm의 이미지에서 3.5μmx3.5μm의 범위를 확대

다양한 요구 사항을 충족하는 분석 기능

곡률 측정 (하드 디스크 핏)

각종 측정 모드에서 얻은 이미지는 목적에 따른 분석이 가능하며, 측정 결과는 CSV 형식으로 출력 할 수 있습니다. OLS4500는 다음의 분석 기능이 있습니다.

  • 단면 형상 분석 (곡률 측정, 협각 측정)
  • 거칠기 분석
  • 형태 분석 (면적, 표면적, 체적, 높이, 히스토그램 값, 베어링 비율 값)
  • 평균 단차 측정 (라인 지정, 크기 지정)
  • 입자 분석 (옵션)

 

가이드 화면으로 따라하기 쉬운 6개의 SPM 측정 모드

 

접촉 모드

캔틸레버와 샘플 사이에서 작동하는 반발력이 일정하게 되도록 제어하면서 캔틸레버를 정적으로 스캔하며 샘플의 높이를 이미지화 시키다. 힘 곡선 측정에도 사용 할 수 있습니다.

다이나믹 모드

캔틸레버를 공진 주파수 근처에서 진동시켜 진폭이 일정하게 되도록 Z축 방향의 거리를 제어하는 것으로, 샘플의 높이를 이미지화 시킨다. 특히 고분자 화합물 같은 부드러운 표면 샘플 및 점착성이 있는 샘플에 적합합니다.

위상 모드

다이나믹 모드에서 스캐닝하는 동안 캔틸레버 진동의 위상 지연을 감지합니다. 샘플 표면의 물리적 특성의 차이를 이미지화 할 수 있습니다.

전류 모드

샘플에 바이어스 전압을 인가하여 캔틸레버와 샘플 사이에 흐르는 전류를 감지하여 이미지화시킵니다. 또한 I / V 측정도 가능합니다.

표면 전위 모드 (KFM)

전도성 캔틸레버를 이용하여 교류 전압을 인가하여 캔틸레버와 샘플 표면 사이에 작용하는 정전기의 힘을 감지하고 샘플 표면의 전위를 이미지화 시킵니다. KFM (Kelvin Force Microscope)라고도합니다.

자력 모드 (MFM)

자력을 갖는 캔틸레버를 위상 모드에서 검사하여, 진동 하는 캔틸레버의 위상 지연을 감지하고 샘플 표면의 자기 정보를 이미지화 시킵니다. MFM (Magnetic Force Microscope)라고도 합니다.

 

레이저 현미경으로 다양한 샘플을 유연하게 대응

85°이상의 경사도 이미지

OLS4500의 높은 해상도와 405nm의 광학시스템에 맞게 설계된 전용렌즈의 채택으로 기존에 측정 불가능했던 급경사면의 이미지를 손쉽게 취득할 수 있습니다.

높은 분해능을 가진 마이크로 프로파일 측정

405nm의 단파장 레이저 빛과 높은 N.A의 전용 대물 렌즈 사용으로 최대 0.12μm의 평면 분해능을 실현. 샘플 표면의 서브 마이크론 측정이 가능합니다. 또한 고정밀 리니어 스케일과 올림푸스 만의 밝기 감지 기술은 서브 마이크론에서 수백 마이크론의 높이 차이를 감지 할 수 있습니다. 또한 레이저 현미경에 의한 측정은 측정기 2 가지 지표인 ‘정확도'(참값에 근접)과 ‘반복성'(편차의 작음) 모두의 성능을 보장하고 있습니다.

광범위의 영역에서 임의의 캡처 이미지 지정

고배율의 이미지에서는 시야범위가 좁아지지만, 스티칭기능으로 최대625장까지 이미지를 붙여 높은 분해능과 넓은 시야범위로 이미지 데이터를 얻을 수 있습니다. 또한 넓은 시야 이미지로 3D 디스플레이 및 3D 측정이 가능합니다.

 

마이크로 영역의 표면 거칠기를 비접촉으로 측정

기존의 선 거칠기 측정에서 보다 정보량이 많은 평면 거칠기 측정이 가능

최근 산업 제품의 크기와 무게의 지속적인 감소로, 이를 구성하는 부품도 소형화 되고 있습니다.  이러한 경향은 표면 거칠기 측정뿐만 아니라, 형상 측정에서도 중요성이 증가하고 있습니다. 이러한 시장의 요구를 반영하여 ISO에서 규정하는 3D 표면 질감 측정 장치 (ISO 25178-6)의 목록에 LSM과 AFM을 추가했습니다. 이 비접촉 표면 거칠기 측정은 (삭제) 기존의 접촉 표면 거칠기 측정기와 같은 공식적인 평가 기준으로 인정된다는 것을 의미합니다. OLS4500은 ISO에 적합한 거칠기 파라미터를 제공합니다.

표면 거칠기 측정의 거칠기 분포와 특징을 자세히 파악

비접촉 표면 거칠기 측정은 평면 거칠기뿐만 아니라 선 거칠기를 얻을 수 있습니다.
표면 거칠기 측정은 샘플 표면에서 설정 한 영역의 분포와 특징을 파악할 수 있으며, 3D 이미지와 대조 한 평가가 가능합니다. OLS4500은 LSM 또는 SPM 기능을 사용하여 표면 거칠기를 측정 할 수 있습니다. 이 두 기능은 샘플 속성 혹은 관찰 목적에 따라 구분하여 사용할 수 있습니다.

(좌)  레이저 현미경에 의한 표면 거칠기 (105μm x 105μm)본딩 패드
(우) 프로브 현미경에 의한 표면 거칠기 (10μm x 10μm)

LEXT OLS4500 파라미터

파라미터 호환성

OLS4100은 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 거칠기 (2 차원) 파라미터를 보유하고 있습니다. 접촉식 표면 거칠기 측정기와 같은 조작성, 호환 측정 결과를 얻을 수 있습니다.

차세대 파라미터에 대응

OLS4500은 ISO25178 규격 거칠기 (3 차원) 파라미터를 보유하고 있습니다. 평면 영역에서 평가를 실시하는 것으로, 높은 신뢰성이 있는 분석이 가능합니다.

 

OLS4500의 현미경 기술

광학 현미경의 원리와 특징

명시야 관찰은 색상 정보를 제공 합니다. 잉크젯 점.

가시 광선 영역 (400-800 nm의 파장)을 사용하여 광학 현미경 이미지를 1000배 정도의 배율로 관찰 할 수 있습니다.  광학 현미경의 특징은 샘플이 가지는 색을 그대로 관찰 할 수 있으며 관찰 방법을 바꾸는 것으로 요철을 강조하거나 물질의 특성 (편광 특성)을 이용한 관찰을 할 수 있다는 것 입니다. OLS4500에서는 다음 관찰 방법이 가능합니다.

  • 명시야 관찰
    가장 일반적인 관찰법. 샘플 표면으로 부터 빛을 받아들여 이미지를 형성
  • 미분간섭 (DIC) 관찰
    샘플 표면의 미세한 요철에 컨트라스트를 강화시켜 입체적으로 시각화
  • 간이 편광 관찰
    편광(특정 진동 방향을 갖는 빛) 빛을 사용하여 샘플의 편광 속성을 시각화

레이저 스캐닝 현미경의 원리와 특징

마이크로 영역 때의 관찰과 측정이 가능한 LSM(Laser Scanning Microscope)

레이저 현미경의 고해상도 XY스캐닝(이미지)

광학 현미경의 평면 분해능은 사용하는 빛의 파장에 크게 의존합니다. 단파장의 레이저 빛을 사용하는 레이저 현미경은 가시 광선을 사용하는 기존의 현미경에 비해 평면 분해능이 뛰어납니다. OLS4500는 405nm의 단파장 반도체 레이저를 사용하며, 높은 개구 수 (NA) 전용 대물 렌즈, 공 초점 광학계를 결합하여 최대 0.12μm의 평면 분해능을 실현하고 있습니다. 또한 올림푸스 만의 2 차원 스캐너에 의한 XY 스캐닝 기능에서 최대 4096 픽셀 x 4096 픽셀의 고해상도 스캔을 가능하게 하고 있습니다.

뛰어난 높이 측정 능력

단차 측정

레이저 현미경은 단파장 반도체 레이저와 공 초점 광학계를 사용하여 초점이 맞는 반사광을 감지하고 초점이 맞지 않는 부분의 반사광은 제외됩니다. 정밀 리니어 스케일과 결합하여 정확한 3 차원 측정이 가능합니다.

 

 

프로브 현미경의 원리와 특징

나노 레벨의 세계를 시각화 하는 프로브 현미경(SPM : Scanning Probe Microscope)

프로브 현미경의 원리

끝 곡률이 10nm 정도의 미세한 탐침 (프로브)을 샘플 표면에 접근 시켜 샘플 사이에 발생하는 역학적 · 전기적 상호 작용을 감지하면서 스캐닝하여 3 차원 적으로 관찰하는 현미경을 총칭하여 프로브 현미경 (SPM)라고 합니다. 대표적인 것으로 탐침과 샘플 표면 사이에 작용하는 인력과 척력을 감지하여 스캔 이미지를 얻는 원자 힘 현미경 (AFM : Atomic Force Microscope)이 있습니다. 나노 수준에서 관찰하는 것으로, 샘플의 모습을 세밀하게 파악할 수 있습니다.

캔틸레버 스캐닝으로 나노를 관찰

SPM Sensor의 광학 경로

OLS4500은 끝에 탐침 (프로브)을 배치 한 캔틸레버의 미세한 굴곡 량 (변위)를 고감도로 검출하는 광 지렛대 방식을 사용. 레이저 빛을 캔틸레버 후면에 반사시켜 광 검출기의 일정한 위치에 맞게 압전 소자에서 Z축으로 구동시켜 미세한 Z축 방향의 변위를 정확하게 읽습니다.

다양한 모드에서 표면 형상과 물리적 이미지화

폴리머 필름

프로브 현미경의 다양한 모드는 샘플 표면 형상 관찰, 측정, 또한 물리적 특성의 분석이 가능합니다. OLS4500는 다음 모드를 지원합니다.

 

 

  • 접촉 모드: 표면 형상을 이미지화 (딱딱한 표면)
  • 다이나믹 모드: 표면 형상을 이미지화 (부드러운 표면, 점성이있는 표면)
  • 위상 모드: 샘플 표면의 물리적 특성의 차이를 이미지화
  • 전류 모드*: 프로브와 샘플 사이에 흐르는 전류를 감지하여 이미지화
  • 표면 전위 모드 (KFM)*: 샘플 표면의 전위를 이미지화
  • 자기력 모드 (MFM)*: 샘플 표면의 자기력 정보를 이미지화
    * Optional.

캔틸레버 : 고정밀, 고품질 이미지의 핵심

탐침 (프로브)은 길이 100μm에서 200μm 정도의 얇은 판 모양 캔틸레버 끝으로 형성되어 있습니다. 캔틸레버는 샘플에 따라 용수철 상수, 공진 주파수를 선택합니다. 스캔 반복에 따라 탐침 (프로브)은 마모하기 때문에 필요에 따라 혹은 정기적으로 캔틸레버 팁을 교체합니다.

 

OLS5000

OLS5000

 

 

The OLS5000 laser confocal microscope precisely measures shape and surface roughness at the submicron level. Data acquisition that’s four times faster than our previous model delivers a significant boost to productivity.

 

 

 

 

 

 

High-resolution, precise imaging

With the capability to make accurate 3D measurements on a wide range of sample types, the system delivers reliable data for quality assurance and process control.

Excellent lateral resolution

The 405 nm violet laser and dedicated high-NA objectives make it possible to capture fine patterns and defects that conventional optical microscopes, white-light interferometers, or red laser-based microscopes are unable to detect.

 

Uniform measurement values

Dedicated LEXT objectives can accurately measure peripheral areas that would otherwise get distorted.

Conventional objectives

LEXT objectives

Newly developed MEMS Scanner

New MEMS scanner performs accurate X-Y scanning with low scan trace distortion and minimal optical aberrations.

 

4K scan technology

The 4K scan technology scans 4,096 pixels — four times more than our previous model — in the X-axis direction.
The OLS5000 microscope can detect slopes that are almost vertical as well as very low steps without image correction.

 

Capturing the true shape

Because conventional laser microscopes use standard image processing techniques such as smoothing to eliminate noise, they sometimes lose accurately measured fine height irregularities along with the noise.
The OLS5000 microscope employs Olympus’ Smart Judge algorithm to automatically detect only reliable data, facilitating accurate measurements without losing fine height irregularity data.

 

Other high-resolution measurement technologies

  • PEAK algorithm
  • Dual confocal system
  • Sq noise (measuring noise) guarantee
  • Accuracy and repeatability are guaranteed
  • Hybrid matching algorithm
  • Hybrid dampening mechanism
  • HDR scan